Podemonstracyjny spektrometr XRF SciAps X-200

Podemonstracyjny spektrometr rentgenowski (XRF) SciAps X-200 do szybkiej identyfikacji różnych gatunków stopów metali. Jest to bardziej zaawansowany model XRF, który zapewnia wyższą czułość i dokładność w analizie pierwiastków lekkich (np. magnez, aluminium). Dzięki lepszemu detektorowi nadaje się do bardziej wymagających zadań w przemyśle i recyklingu, szczególnie w analizie stopów i metali szlachetnych.
Cena: wypełnij poniższy formularz, aby otrzymać informację o cenie.
Wypełnij poniższy formularz, a my skontaktujemy się z Tobą w wybrany przez Ciebie sposób.
Jeśli wolisz kontakt bezpośredni i chcesz uzyskać informację o cenie oraz o dokładnej konfiguracji spektrometru, skontaktuj się naszym doradcą techniczno-handlowym:
Wojciech Kopańczyk
Tel.: +48 664 423 487
E-mail: w.kopanczyk@metalogis.com

Wyczyść zapytanie i zacznij od nowa. Po kliknięciu na tą ikonę pojawi się możliwość skasowania wszystkich produktów z listy zapytania i rozpoczęcie dodawania od nowa produktów do zapytania. Anulowanie nie wprowadzi żadnych zmian.
Pokaż wybrane przeze mnie produkty. Po kliknięciu na tą ikonę pojawi się lista dotychczas wybranych produktów, na które przygotujemy Ci ofertę, kiedy już wyślesz zapytanie. Można w tym miejscu zmieniać ilości wybranych produktów lub całkowicie usunąć produkty z listy. Po kliknięciu przycisku "Aktualizuj", list wybranych produktów oraz ich ilości zostaną zaktualizowane.
Wyślij zapytanie. Po kliknięciu na tą ikonę nastąpi przekierowanie na stronę z formularzem kontaktowym, w którym treść zapytania będzie już wypełnione. Wystarczy wpisać tylko swoje dane i kliknąć przycisk "Wyślij zapytanie", aby otrzymać od nas ofertę, na intersujące Cię materiały.