Zapisz się do Newslettera, aby niczego nie przegapić!
Baza wiedzy
Przeszukaj Bazę Wiedzy po słowach kluczowych
-
Metody preparatyki
- Metoda 001 - Stal do nawęglania i ulepszania cieplnego
- Metoda 002 - Żeliwo sferoidalne
- Metoda 003 - Żeliwo szare z grafitem płytkowym
- Metoda 004 - Stal po nawęglaniu
- Metoda 005 - Stal szybkotnąca
- Metoda 006 - Aluminium niskokrzemowe
- Metoda 007 - Mosiądze
- Metoda 008 - Powłoki termiczna TBC [ang. Thermal Barrier Coating]
- Metoda 009 - Tworzywa wzmacniane włóknem węglowym CFRP
- Metoda 010 - Klinkier cementowy
-
Zagadnienia ogólne
- Czy spektrometr LIBS wymaga specjalnego przystosowania do użytkowania?
- Do analizy jakich stopów jest dedykowany spektrometr LIBS?
- Jak ustalić czas analizy spektrometrem LIBS?
- Przygotowanie powierzchni próbek do analizy LIBS
- Spektrometria LIBS - podstawy teoretyczne
- Wymogi bezpieczeństwa dla spektrometrów LIBS
-
Przykłady zastosowań
- Artykuły niedługo pojawią się.
-
Zagadnienia ogólne
- Czy próbki do analiz XRF wymagają odpowiedniego przygotowania?
- Czy spektrometr XRF wymaga zgłoszenia do Państwowej Agencji Atomistyki?
- Czym wyróżniają się nowoczesne spektrometry XRF?
- Jak ustalić czas analizy próbki?
- Jaki papier ścierny użyć do szlifowania próbek do analizy XRF?
- Jakie pierwiastki można analizować spektrometrem XRF?
- Różne wyniki analiz tej samej próbki na różnych spektrometrach XRF.
- Spektrometria rentgenowska XRF - podstawy teoretyczne
- Metoda Brinella - Pomiar twardości
- Podział twardościomierzy pod kątem technologii obciążenia pomiarowego
- Pomiar twardości materiałów metodą Knoopa
- Pomiar twardości materiałów metodą Rockwella
- Pomiar twardości materiałów metodą Vickersa
- Pomiary twardości - definicja i informacje ogólne
- Pomiary twardości materiałów węglowych i grafitowych wg normy DIN 51917