SciAps X-200 – Podręczny, przenośny spektrometr rentgenowski XRF

Wszechstronny i wydajny spektrometr XRF

SciAps X-200 to nowoczesny spektrometr rentgenowski (XRF), który idealnie łączy wysoką wydajność z przystępną ceną. Dzięki swojej lekkości, przenośnej konstrukcji i zaawansowanym technologiom, podręczny spektrometr X-200 jest idealnym narzędziem dla specjalistów poszukujących precyzyjnych i szybkich wyników w identyfikacji i segregacji złomu a także w analizie materiałów metalicznych, zarówno w kontekście przemysłowym, jak i geochemicznym.

Zaawansowana technologia i wysoka wydajność

Spektrometr rentgenowski SciAps X-200 wyposażony jest w detektor SDD o powierzchni 20 mm², który zapewnia wiodącą w branży prędkość i precyzję analizy. W połączeniu z lampą rentgenowską o mocy 4 lub 5 W oraz anodą rodową o napięciu 40 kV lub 50kV, urządzenie oferuje wyjątkową szybkość i dokładność. Zoptymalizowana geometria układu analitycznego pozwala na osiąganie wyników porównywalnych lub lepszych niż te uzyskiwane przy użyciu najwyższej klasy analizatorów innych marek.

Wszechstronność zastosowań

Spektrometr XRF X-200 sprawdza się doskonale w szerokim zakresie zastosowań, od segregacji złomu i badań nieniszczących (PMI), po kontrolę jakości i zastosowania geochemiczne. Urządzenie jest fabrycznie kalibrowane z wykorzystaniem metody parametrów fundamentalnych, wstępnej kalibracji pierwiastków dla wszystkich baz stopów oraz normalizacji Comptona (zgodnie z metodą EPA 6200). Dla użytkowników wymagających specyficznych ustawień, istnieje również możliwość przeprowadzenia kalibracji empirycznych, zdefiniowanych przez użytkownika.

Gotowość do użycia i przenośność

Lekka i kompaktowa konstrukcja X-200 sprawia, że spektrometr jest wygodny w użyciu i łatwy do transportu, co czyni go idealnym rozwiązaniem dla specjalistów pracujących w terenie. Jego wszechstronność oraz niezawodność czynią go pierwszym wyborem w wielu branżach, gdzie kluczowa jest szybka i dokładna identyfikacja materiałów.

Wybierz spektrometr rentgenowski XRF SciAps X-200, jeśli szukasz niezawodnego, wszechstronnego i wydajnego spektrometru XRF, który sprosta wymaganiom nawet najbardziej wymagających zastosowań.

Zastosowania/Kalibracje:

• Analiza stopów: Szybkie sortowanie i identyfikacja stopów aluminium, stali nierdzewnej, stopów niklu, miedzi, tytanu i innych metali.
• Geochemia: Precyzyjna analiza pierwiastków w glebie, osadach i skałach, z wykrywaniem takich pierwiastków jak tytan, wanad, chrom, mangan, żelazo, kobalt, nikiel, miedź, cynk i inne.
• Analiza środowiskowa: Detekcja i identyfikacja metali ciężkich w glebie i innych próbkach środowiskowych.

Najważniejsze parametry techniczne:

• Lampa XRF: 40 kV (4 lub 5W) 200uA anoda Rh (Alloy) lub 50 kV anoda Au 200uA (Geochem, Soil, RoHS, Car Catalyst i inne).
• Detektor: 20 mm² SDD, rozdzielczość> 140 eV, szybkość zliczania >125kcps
• System operacyjny: Android
• Procesor: 4-rdzeniowy 1.2 GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, RAM 2 GB LP-DDR3. Pamięć: 16 GB eMMC.

Producent: SciAps (USA)

Interesuje Cię to rozwiązanie oraz jego cena?

Zapytaj o produkt